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能量色散X熒光光譜儀 XRF
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超大行程X熒光膜厚測試儀
型號：EDX-PCB
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產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置
EDX-PCB是一款專門用于測量大型PCB板、箱體以及晶圓的超大行程上照式X熒光測厚儀，搭配圖紙輸入系統(tǒng)以及外部圖片輸入，不僅能隨心所欲的快速運動被測樣品的任何區(qū)域，在微區(qū)攝像頭的幫助下，也能極快的定位被測樣品上極微小的測試點，完成快速編程與測試。
應(yīng)用領(lǐng)域
PCB板
大型箱體
晶圓
性能優(yōu)勢
1 超大開放式樣品腔搭配全自動超精密大行程平臺，XY移動范圍：600mm×400mm。
2 可外部輸入被測板材的圖片或搭配外攝全景攝像頭。
3 搭配多種不同規(guī)格尺寸的準(zhǔn)直器，可對應(yīng)不同的測試場景。
4 高達(dá)140mm的Z軸移動范圍配合可變焦補(bǔ)正系統(tǒng)，可應(yīng)對各種凹槽異型件。
5 配備70mm2超大探測窗口，相比常規(guī)探測器，不僅分辨率更高，計數(shù)率也顯著增強(qiáng)，能為超小測試點提供更穩(wěn)定的測試效果。
應(yīng)用領(lǐng)域
PCB板
大型箱體
晶圓
性能優(yōu)勢
1 超大開放式樣品腔搭配全自動超精密大行程平臺，XY移動范圍：600mm×400mm。
2 可外部輸入被測板材的圖片或搭配外攝全景攝像頭。
3 搭配多種不同規(guī)格尺寸的準(zhǔn)直器，可對應(yīng)不同的測試場景。
4 高達(dá)140mm的Z軸移動范圍配合可變焦補(bǔ)正系統(tǒng)，可應(yīng)對各種凹槽異型件。
5 配備70mm2超大探測窗口，相比常規(guī)探測器，不僅分辨率更高，計數(shù)率也顯著增強(qiáng)，能為超小測試點提供更穩(wěn)定的測試效果。
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